一、品牌介紹
安立（Anritsu）成立于1895年，擁有百余年創(chuàng)新電子測量解決方案研發(fā)與服務(wù)經(jīng)驗，專注為有線和無線通信系統(tǒng)、運營商及多行業(yè)領(lǐng)域提供測試測量設(shè)備與方案。公司在全球設(shè)立研發(fā)中心與生產(chǎn)基地，銷售及服務(wù)網(wǎng)絡(luò)覆蓋90多個國家和地區(qū)，在中國設(shè)立多家代表處與服務(wù)機構(gòu)，扎根本土市場。
安立在光通信測試領(lǐng)域積淀深厚，自1983年起推出光譜分析儀系列產(chǎn)品，憑借獨創(chuàng)技術(shù)與可靠性能，其光測試設(shè)備廣泛應(yīng)用于光器件研發(fā)、生產(chǎn)及運維環(huán)節(jié)，涵蓋光時域反射計、光譜分析儀、傳輸測試儀等多個品類，為光通信產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供有力支撐，踐行“智能解決方案的創(chuàng)造者”定位。
二、產(chǎn)品特點
高速測試性能：作為Anritsu MS9740A系列核心優(yōu)勢，實現(xiàn)≤0.2秒/5nm掃描速度，較前代產(chǎn)品測試效率提升80%，波形數(shù)據(jù)測量與外部傳輸可在0.2秒內(nèi)完成，該速度達(dá)到前代型號的5倍，有效縮短測試周期，提升生產(chǎn)與研發(fā)效率。
精準(zhǔn)測量能力：覆蓋600nm-1750nm波長測量范圍，具備≥60dB動態(tài)范圍（0.4nm距峰值波長處），30pm最小分辨率帶寬，波長精度可達(dá)±20pm（特定條件下），保障測量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠。
廣泛適配性：支持10μm/125μm單模光纖、50μm/125μm及62.5μm/125μm多模光纖，配備可更換FC、SC、ST、DIN、LC光學(xué)連接器，適配多種測試場景與器件類型，兼容當(dāng)前主流光器件接頭規(guī)格。
高性價比優(yōu)勢：在保持核心性能的基礎(chǔ)上，優(yōu)化成本控制，較同類產(chǎn)品投入成本降低約30%，避免功能冗余，為用戶提供適配需求的高性價比測試方案。
穩(wěn)定運行特性：采用高耦合效率設(shè)計，減少連接損耗，保障高靈敏度光功率與SMSR測量，提升測量穩(wěn)定性；設(shè)備重量≤15.0kg，功耗降低50%，工作溫度范圍覆蓋5~45℃，適配實驗室與生產(chǎn)線長期運行需求。
便捷操作體驗：簡化分析流程，支持波形數(shù)據(jù)快速傳輸至外部控制設(shè)備，適配自動化測試需求，降低操作復(fù)雜度。
三、產(chǎn)品規(guī)格
規(guī)格項目 | 詳細(xì)參數(shù) |
|---|
適用光纖 | 10μm/125μm單模光纖（ITU-T G.652）、50μm/125μm多模光纖、62.5μm/125μm多模光纖 |
光學(xué)連接器 | 用戶可更換：FC、SC、ST、DIN、LC |
波長測量范圍 | 600nm - 1750nm |
波長精度 | ±20pm（1520nm-1620nm，分辨率0.03-0.2nm）；±100pm（1520nm-1620nm，分辨率0.5-1.0nm）；±50pm（1530nm-1570nm，分辨率0.07-0.2nm）；±100pm（1530nm-1570nm，分辨率0.5-1.0nm）（需滿足預(yù)熱2小時、特定光纖條件） |
設(shè)置分辨率（RBW） | 0.03、0.05、0.07、0.1、0.2、0.5、1.0nm（3dB光學(xué)濾波器傳輸帶寬） |
動態(tài)范圍 | 高動態(tài)范圍：60dB（0.4nm距峰值波長處）；標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)范圍：58dB（0.4nm距峰值波長處）（分辨率0.05nm、1550nm、光衰減關(guān)閉、20-30℃） |
掃描參數(shù) | 掃描寬度：0.2nm - 1200nm、0nm；掃描速度：≤0.2秒（跨度5nm，分辨率0.1nm、VBW=10kHz、標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)范圍、中心1550nm） |
最大輸入功率 | +23dBm（光衰減開啟） |
外形尺寸 | 426（寬）×177（高）×350（深）mm（不含凸起部分） |
設(shè)備重量 | ≤15.0kg（無選件） |
四、應(yīng)用場景
光有源器件生產(chǎn)測試：適配SFP、XFP、SFP+模塊、光收發(fā)器及VCSEL、DFB光源等光有源器件的批量生產(chǎn)測試，Anritsu MS9740A系列高速掃描性能可縮短單臺器件測試時間，減少生產(chǎn)線投入，在控制成本的同時保障生產(chǎn)產(chǎn)能與測試質(zhì)量，所有測量結(jié)果可在一個屏幕顯示，無需切換畫面。
光學(xué)器件特性評估：可用于WDM器件、光放大器等光學(xué)器件的特性評估，精準(zhǔn)測量光譜變化、噪聲電平波動等參數(shù)，為器件性能優(yōu)化提供可靠數(shù)據(jù)支撐。
研發(fā)實驗室測試：適配光通信領(lǐng)域研發(fā)實驗場景，支持光譜特性的高速監(jiān)控與精準(zhǔn)測量，滿足研發(fā)過程中對測試精度、速度及穩(wěn)定性的多重需求，助力新技術(shù)與新產(chǎn)品研發(fā)。
質(zhì)量控制環(huán)節(jié)：適用于光器件及系統(tǒng)產(chǎn)品的質(zhì)量控制檢測，可快速完成批量產(chǎn)品的光譜性能篩查，及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量問題，保障出廠產(chǎn)品一致性與可靠性。
自動化測試系統(tǒng)集成：支持?jǐn)?shù)據(jù)快速傳輸至外部控制設(shè)備，可集成于自動化測試系統(tǒng)中，適配大規(guī)模、自動化的生產(chǎn)測試需求，提升測試流程的標(biāo)準(zhǔn)化與高效性。
